1. Репозиторій Української інженерно-педагогічної академії
  2. Матеріали конференцій
  3. Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: (матеріали міжнародної науково-практичної конференції)=Quality, Standardization and Metrological Equipment : Materials of the International Scientific and Practical Conference
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058
Назва: ОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬ
Автори: Бондар, Д. Ю.
Дата публікації: 2023
Видавництво: УІПА
Бібліографічний опис: Бондар Д. Ю. Особливості метрологічного забезпечення нановимірювань / Д. Ю. Бондар // Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: матеріали 2-ї міжнародної наук.-практ. конф. (м. Харків, 14-15 берез. 2023 р] / за заг. ред. д-ра техн. наук, проф. Р. М. Тріща, канд. техн. наук доц. Г. С. Грінченко ; Укр. інж.-пед. акад. – Харків : УІПА, 2023. – С. 48-49.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058
Розташовується у зібраннях:Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: (матеріали міжнародної науково-практичної конференції)=Quality, Standardization and Metrological Equipment : Materials of the International Scientific and Practical Conference

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Бондар.pdfтези82,12 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.