1. Репозиторій Української інженерно-педагогічної академії
  2. Матеріали конференцій
  3. Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: (матеріали міжнародної науково-практичної конференції)=Quality, Standardization and Metrological Equipment : Materials of the International Scientific and Practical Conference
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБондар, Д. Ю.-
dc.date.accessioned2024-11-26T07:18:38Z-
dc.date.available2024-11-26T07:18:38Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationБондар Д. Ю. Особливості метрологічного забезпечення нановимірювань / Д. Ю. Бондар // Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: матеріали 2-ї міжнародної наук.-практ. конф. (м. Харків, 14-15 берез. 2023 р] / за заг. ред. д-ра техн. наук, проф. Р. М. Тріща, канд. техн. наук доц. Г. С. Грінченко ; Укр. інж.-пед. акад. – Харків : УІПА, 2023. – С. 48-49.uk_UA
dc.identifier.urihttp://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058-
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherУІПАuk_UA
dc.titleОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
Располагается в коллекциях:Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: (матеріали міжнародної науково-практичної конференції)=Quality, Standardization and Metrological Equipment : Materials of the International Scientific and Practical Conference

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Бондар.pdfтези82,12 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.