ОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬ

Please use this identifier to cite or link to this item: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058

Title:	ОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬ
Authors:	Бондар, Д. Ю.
Issue Date:	2023
Publisher:	УІПА
Citation:	Бондар Д. Ю. Особливості метрологічного забезпечення нановимірювань / Д. Ю. Бондар // Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: матеріали 2-ї міжнародної наук.-практ. конф. (м. Харків, 14-15 берез. 2023 р] / за заг. ред. д-ра техн. наук, проф. Р. М. Тріща, канд. техн. наук доц. Г. С. Грінченко ; Укр. інж.-пед. акад. – Харків : УІПА, 2023. – С. 48-49.
URI:	http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/9058
Appears in Collections:	Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: (матеріали міжнародної науково-практичної конференції)=Quality, Standardization and Metrological Equipment : Materials of the International Scientific and Practical Conference

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Бондар.pdf	тези	82,12 kB	Adobe PDF	View/Open

DSpace JSPUI