DSpace JSPUI
DSpace зберігає і дозволяє легкий і відкритий доступ до всіх видів цифрового контенту, включаючи текст, зображення, анімовані зображення, MPEG і набори даних
Дізнатися більше Нaукова Бібліотека УІПА
ISSN 2412-4443
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762| Назва: | Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів |
| Автори: | Тріщ, Роман Михайлович Пащенко, Едуард Андрійович Бурдейна, Вікторія Михайлівна |
| Ключові слова: | Контроль вісь наскрізні отвори мікроскоп |
| Дата публікації: | 19-лис-2015 |
| Серія/номер: | 14;100591 |
| Короткий огляд (реферат): | Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів містить основу, втулку зі скошеним торцем та проміжні кільця. Основа містить два отвори, призначені для дослідження отворів у деталі, між проміжними кільцями та верхньою поверхнею втулки, а також між нижньою поверхнею втулки і площиною основи встановлено кульки, які центрують засіб в двох взаємно перпендикулярних напрямах. На основі гвинтами закріплено направляючу втулку. В осьовому напрямі засіб скріплюється тягою через шайбу. Постійний натяг засобу здійснюється пружинами, що утримують кульки і регулюються гайкою, встановленою на основі. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/4762 |
| Розташовується у зібраннях: | Патенти на винаходи (корисні моделі) |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| control_osei_otvoriv.pdf | 198,61 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.