Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762
Title: | Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів |
Authors: | Тріщ, Роман Михайлович Пащенко, Едуард Андрійович Бурдейна, Вікторія Михайлівна |
Keywords: | Контроль вісь наскрізні отвори мікроскоп |
Issue Date: | 19-Nov-2015 |
Series/Report no.: | 14;100591 |
Abstract: | Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів містить основу, втулку зі скошеним торцем та проміжні кільця. Основа містить два отвори, призначені для дослідження отворів у деталі, між проміжними кільцями та верхньою поверхнею втулки, а також між нижньою поверхнею втулки і площиною основи встановлено кульки, які центрують засіб в двох взаємно перпендикулярних напрямах. На основі гвинтами закріплено направляючу втулку. В осьовому напрямі засіб скріплюється тягою через шайбу. Постійний натяг засобу здійснюється пружинами, що утримують кульки і регулюються гайкою, встановленою на основі. |
URI: | http://hdl.handle.net/123456789/4762 |
Appears in Collections: | Патенти на винаходи (корисні моделі) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
control_osei_otvoriv.pdf | 198,61 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.