Please use this identifier to cite or link to this item: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762
Title: Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів
Authors: Тріщ, Роман Михайлович
Пащенко, Едуард Андрійович
Бурдейна, Вікторія Михайлівна
Keywords: Контроль
вісь
наскрізні отвори
мікроскоп
Issue Date: 19-Nov-2015
Series/Report no.: 14;100591
Abstract: Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів містить основу, втулку зі скошеним торцем та проміжні кільця. Основа містить два отвори, призначені для дослідження отворів у деталі, між проміжними кільцями та верхньою поверхнею втулки, а також між нижньою поверхнею втулки і площиною основи встановлено кульки, які центрують засіб в двох взаємно перпендикулярних напрямах. На основі гвинтами закріплено направляючу втулку. В осьовому напрямі засіб скріплюється тягою через шайбу. Постійний натяг засобу здійснюється пружинами, що утримують кульки і регулюються гайкою, встановленою на основі.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/4762
Appears in Collections:Патенти на винаходи (корисні моделі)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
control_osei_otvoriv.pdf198,61 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.