1. Репозиторій Української інженерно-педагогічної академії
  2. Інтелектуальна власність
  3. Патенти на винаходи (корисні моделі)
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorТріщ, Роман Михайлович-
dc.contributor.authorПащенко, Едуард Андрійович-
dc.contributor.authorБурдейна, Вікторія Михайлівна-
dc.date.accessioned2015-11-19T10:36:15Z-
dc.date.available2015-11-19T10:36:15Z-
dc.date.issued2015-11-19-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/4762-
dc.description.abstractЗасіб контролю відхилень осей наскрізних отворів містить основу, втулку зі скошеним торцем та проміжні кільця. Основа містить два отвори, призначені для дослідження отворів у деталі, між проміжними кільцями та верхньою поверхнею втулки, а також між нижньою поверхнею втулки і площиною основи встановлено кульки, які центрують засіб в двох взаємно перпендикулярних напрямах. На основі гвинтами закріплено направляючу втулку. В осьовому напрямі засіб скріплюється тягою через шайбу. Постійний натяг засобу здійснюється пружинами, що утримують кульки і регулюються гайкою, встановленою на основі.uk_UK
dc.relation.ispartofseries14;100591-
dc.subjectКонтрольuk_UK
dc.subjectвісьuk_UK
dc.subjectнаскрізні отвориuk_UK
dc.subjectмікроскопuk_UK
dc.titleЗасіб контролю відхилень осей наскрізних отворівuk_UK
dc.typeOtheruk_UK
Розташовується у зібраннях:Патенти на винаходи (корисні моделі)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
control_osei_otvoriv.pdf198,61 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.