1. Репозиторій Української інженерно-педагогічної академії
  2. Матеріали конференцій
  3. Тези співробітників та викладачів
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/7636
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПроценко, В.М.-
dc.date.accessioned2023-10-16T08:33:38Z-
dc.date.available2023-10-16T08:33:38Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.urihttp://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/7636-
dc.descriptionЯкість, стандартизація та метрологічне забезпечення: [матеріали ІІ міжнародної науково-практичної конференції, Харків - 14-15 березня 2023 року] / за заг. ред. д.т.н., проф. Р. М. Тріща, к.т.н., доц. Г. С. Грінченко. Українська інженерно-педагогічна академія. Харків: УІПА, 2023. - 114 с.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherУкраїнська інженерно-педагогічна академіяuk_UA
dc.titleВИКОРИСТАННЯ RFID ТЕХНОЛОГІЇ У ПРОМИСЛОВОСТІuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
Располагается в коллекциях:Тези співробітників та викладачів

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
collection-of-abstracts-of-the-conference-36-37.pdf371,33 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.