<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
  <title>DSpace Собрание:</title>
  <link rel="alternate" href="http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4752" />
  <subtitle />
  <id>http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4752</id>
  <updated>2026-04-08T00:36:59Z</updated>
  <dc:date>2026-04-08T00:36:59Z</dc:date>
  <entry>
    <title>Спосіб контролю залишків шоколаду в формах</title>
    <link rel="alternate" href="http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4767" />
    <author>
      <name>Тріщ, Роман Михайлович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Артюх, Світлана Миколаївна</name>
    </author>
    <author>
      <name>Кіпоренко, Ганна Сергіївна</name>
    </author>
    <author>
      <name>Лис, Юлія Станіславівна</name>
    </author>
    <author>
      <name>Шматков, Даніїл Ігорович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Балафендієва, Регіна Заурівна</name>
    </author>
    <id>http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4767</id>
    <updated>2015-12-16T12:44:14Z</updated>
    <published>2015-12-16T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Название: Спосіб контролю залишків шоколаду в формах
Авторы: Тріщ, Роман Михайлович; Артюх, Світлана Миколаївна; Кіпоренко, Ганна Сергіївна; Лис, Юлія Станіславівна; Шматков, Даніїл Ігорович; Балафендієва, Регіна Заурівна
Краткий осмотр (реферат): Спосіб контролю залишків шоколаду в формах включає контроль залишків шоколаду, який здійснюють з використанням джерела світла, яке проектують на форму та яке охоплює всю її поверхню в момент фіксації залишків, а також не створює тіні та не нагріває шоколад, оптичного засобу, який включає встановлену в зафіксованому положенні галогенну лампу однорідного та направленого світла, оптичний засіб, що встановлений в зафіксованому положенні поза площиною проекції світлового променя галогенної лампи, та блока обробки, з'єднаного з оптичним засобом, який направлено в центр контрольованої ділянки під прямим кутом та який веде її зйомку, і блока обробки, на якому визначається ступінь забрудненості форми. Наявність залишків шоколаду в формах на етапі обробки отриманої інформації визначають методом обчислення геометричної складової, а саме площин неправильних фігур, а саме залишків шоколаду в формах на знімках, зроблених оптичним засобом контролю.</summary>
    <dc:date>2015-12-16T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Радіаційно-захисний матеріал</title>
    <link rel="alternate" href="http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4765" />
    <author>
      <name>Тріщ, Роман Михайлович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Моргунов, Володимир Вікторович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Диденко, Наталія Вікторівна</name>
    </author>
    <author>
      <name>Денисенко, Марина Володимирівна</name>
    </author>
    <id>http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4765</id>
    <updated>2015-11-19T13:39:51Z</updated>
    <published>2015-11-19T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Название: Радіаційно-захисний матеріал
Авторы: Тріщ, Роман Михайлович; Моргунов, Володимир Вікторович; Диденко, Наталія Вікторівна; Денисенко, Марина Володимирівна
Краткий осмотр (реферат): Радіаційно-захисний матеріал з використанням скляних мікросфер, який відрізняється тим, що матеріал складається з двох зовнішніх бавовняних шарів, між якими засипані мікросфери зі свинцевого скла.</summary>
    <dc:date>2015-11-19T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів</title>
    <link rel="alternate" href="http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762" />
    <author>
      <name>Тріщ, Роман Михайлович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Пащенко, Едуард Андрійович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Бурдейна, Вікторія Михайлівна</name>
    </author>
    <id>http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4762</id>
    <updated>2015-11-19T10:36:15Z</updated>
    <published>2015-11-19T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Название: Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів
Авторы: Тріщ, Роман Михайлович; Пащенко, Едуард Андрійович; Бурдейна, Вікторія Михайлівна
Краткий осмотр (реферат): Засіб контролю відхилень осей наскрізних отворів містить основу, втулку зі скошеним торцем та проміжні кільця. Основа містить два отвори, призначені для дослідження отворів у деталі, між проміжними кільцями та верхньою поверхнею втулки, а також між нижньою поверхнею втулки і площиною основи встановлено кульки, які центрують засіб в двох взаємно перпендикулярних напрямах. На основі гвинтами закріплено направляючу втулку. В осьовому напрямі засіб скріплюється тягою через шайбу. Постійний натяг засобу здійснюється пружинами, що утримують кульки і регулюються гайкою, встановленою на основі.</summary>
    <dc:date>2015-11-19T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
  <entry>
    <title>Спосіб визначення точності розмірів координованих отворів</title>
    <link rel="alternate" href="http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4761" />
    <author>
      <name>Тріщ, Роман Михайлович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Пащенко, Едуард Андрійович</name>
    </author>
    <author>
      <name>Бурдейна, Вікторія Михайлівна</name>
    </author>
    <id>http://repo.uipa.edu.ua/jspui/handle/123456789/4761</id>
    <updated>2015-11-19T10:31:54Z</updated>
    <published>2015-11-19T00:00:00Z</published>
    <summary type="text">Название: Спосіб визначення точності розмірів координованих отворів
Авторы: Тріщ, Роман Михайлович; Пащенко, Едуард Андрійович; Бурдейна, Вікторія Михайлівна
Краткий осмотр (реферат): Спосіб визначення точності розмірів координованих отворів полягає у визначенні фіксованих точок верху та низу об'єкта контролю, визначенні точності координованих розмірів з урахуванням положення осей отворів за фіксованими точками, що включає визначення позиційного відхилення осей отворів, а саме розрахунок розмірів, які координують положення осей отворів в горизонтальному та вертикальному напрямах, розрахунок різниці координованих розмірів положення осей отвору, розрахунок позиційного відхилення осей отвору, визначенні міжосьового розміру верху та низу об'єкта контролю та його відхилення та визначенні відстані від бази верху та низу об'єкта контролю. Об'єкт контролю із отвором центрується із застосуванням засобу визначення точності розмірів координованих отворів, що містить отвори, призначені для дослідження отворів у об'єктах контролю через універсальний вимірювальний мікроскоп.</summary>
    <dc:date>2015-11-19T00:00:00Z</dc:date>
  </entry>
</feed>

